顯微顆粒圖像儀

簡要描述：首先感謝您對佳航儀器的關注！

我公司視“打造國產的激光粒度儀器"為己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針，全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。

JH-T190顆粒圖像儀是山東耐克特分析儀器有限公司的新一代顆粒圖像分析設備，JH-T190采用最新的工業級顯微圖像采集系統，使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統能夠對樣品的“單體數據"、“形態參數"、“整體分布"等參數進行分析和計算，可

產品型號：JH-T190
是否自營：是
更新時間：2025-10-09
總訪問量：3740

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激光粒度儀

動態圖像粒度儀全自動濕法激光粒度分析儀噴霧激光粒度分析儀納米粒度儀干濕一體干法激光粒度儀查看全部產品

詳細介紹

品牌	Jiahang/上海佳航	分散方式	濕法分散
價格區間	面議	儀器種類	顆粒圖像分析儀
產地類別	國產	應用領域	環保,食品/農產品,化工,生物產業,電子/電池

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我公司視“打造國產的激光粒度儀器"為己任，以科技創品牌、質量闖市場、信譽贏天下為方針，全力打造超穩定、高性價比的國產激光粒度儀器。

窗體頂端

JH-T190顆粒圖像儀是山東耐克特分析儀器有限公司的新一代顆粒圖像分析設備，JH-T190采用最新的工業級顯微圖像采集系統，使樣品觀測更加清晰。分析軟件系統能夠對樣品的“單體數據"、“形態參數"、“整體分布"等參數進行分析和計算，可以輕松獲得樣品的整體分布規律的曲線圖和顆粒形態描述等豐富數據，是對各類顆粒樣品進行觀測和分析的專業儀器設備。配套的專業顆粒分析軟件根據多年來用戶的使用意見進行了更加人性化的升級和改進，由計算機自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性"、以及包括長徑比、球型度在內的“形態參數"。再通過進一步計算得出此樣品的整體分布情況（包含整體分布曲線等豐富數據），軟件中還增加了多幅圖像拼接計算的模式，成倍增加了參與分析的顆粒數量，從而有效的保證了數據的代表性。最后可將樣品的數據以報告的形式輸出（包含有圖像范例、圖表、數據列表等），非常便于測試人員對測試結果進行管理和匯報。

JH-T190 顯微顆粒圖像分析儀技術參數及詳細配置

技術參數：

硬件參數

顯微系統	光路系統	有限遠機械筒長
	觀察頭	45 度鉸鏈式三目頭 (50mm -75mm),對中望遠鏡,可100%通光攝影
		45 度鉸鏈式雙目頭 (50mm -75mm),對中望遠鏡
	目鏡	WF10X/Ф20mm
	長工作距平場消色差物鏡	倍率	數值孔徑(N.A.)	工作距離(W.D.)
		10×	0.25	8.1
		25×	0.4	4.8
		40×(S)	0.6	3.3
	相襯物鏡	10×	0.25	8.1
	放大倍數	40×-400×
	物鏡轉輪	四孔內向物鏡轉換器
	載物臺	雙層移動平臺:200mmX152mm,移動范圍: 75mmX30mm
	聚光鏡	N. A.0.4 阿貝聚光鏡,工作距離 30mm,帶濾色片托架
	標本架	Φ68mm/Φ72或77mmX33mm培養器皿
	相襯裝置	10×相襯環板中心可調
	調焦機構	粗微動同軸調焦,帶鎖緊和限位裝置板,微動格值:2μm,調焦范圍:30mm
	照明系統	鹵素燈 6V/20W，可調光亮度
總放大倍數	4倍——1600倍
攝像系統	最高分辨率	2048×1536
	像素尺寸	3.2μm×3.2μm
	成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS
	幀率	6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480
	最高清晰度	900線
	信噪比	小于42dB
	敏感度	1.0V@550nm/lux/S
	輸出方式	USB2.0
	實際觀測范圍	1微米——3000微米
軟件參數
軟件功能	靜態采集	將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片
	圖片處理	使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理
	圖像拼接	將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性
	顆粒的自動處理工具集	自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動填補顆粒的空心區域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。
	比例尺標定	通過國家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數值即可直接得到顆粒的實際大小數值。
	單個顆粒數據	可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數的分析
	任務管理機制	嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。
	報告輸出	將測試結果輸出為報告，并可以自定義報告樣式。
	整體分布特征參數	D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數
報告參數	整體頻率分布累計分布	顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。
	統計平均徑	Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統計平均徑
	形狀參數	長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據
	個數統計	直接得到所觀測的顆粒數量
	樣品縮略圖	可以將樣品縮略圖顯示到報告中
	表頭輸入	可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中
	自定義LOGO	用戶可以自定義LOGO和報告名稱，使輸出的報告顯示自己公司的信息

產品優勢 ：

JH-T190顆粒圖像儀"作為專業的顆粒圖像分析儀器，是專為顆粒或顆粒相關行業設計開發的，它的突出優勢主要體現在以下方面：

※1 、專業性強：與其他廠家生產的各種類型圖像分析儀器相比，山東耐克特專業的顆粒測試研究經驗與圖像學理論結合，是“JH-T190顆粒圖像儀"專業性的保證。本產品不但可對樣品的顆粒單體的進行科學描述，還可以將顆粒的分布情況使用數據、圖表等方式進行直觀表現。能夠獨立或輔助激光粒度儀等設備更好的進行顆粒測試工作。

※2、數據直觀、易懂，分析結果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優勢是其他所有顆粒測試設備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數據含義。

※3、應用廣泛，性價比*：“JH-T190顆粒圖像儀"既可以作為一種觀測儀器，替代傳統顯微鏡進行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數據，操作直觀簡便，應用范圍十分廣泛。